С. Н. Николаев, В. С. Кривобок, В. С. Багаев, Е. Е. Онищенко, А. В. Новиков, М. В. Шалеев, “Тонкая структура излучения двумерной электронно-дырочной жидкости в SiGe/Si квантовых ямах”, Письма в ЖЭТФ, 2016, том 104, выпуск 3,страницы 161

Эта публикация цитируется в 17 статьях

ОПТИКА, ЛАЗЕРНАЯ ФИЗИКА

Тонкая структура излучения двумерной электронно-дырочной жидкости в SiGe/Si квантовых ямах

С. Н. Николаев^a, В. С. Кривобок^a, В. С. Багаев^a, Е. Е. Онищенко^a, А. В. Новиков^bc, М. В. Шалеев^c

^a Физический институт им. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
^b Нижегородский государственный университет им. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
^c Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Экспериментально обнаружена тонкая структура спектра излучения квазидвумерной (2D) электронно-дырочной жидкости (ЭДЖ) в мелких SiGe/Si квантовых ямах. Дано объяснение этой структуры на основе представлений о скачках в плотности состояний, возникающих за счет сосуществования в ЭДЖ легких и тяжелых дырок, и о взаимодействии носителей заряда с колебаниями зарядовой плотности в ЭДЖ.

Поступила в редакцию: 07.06.2016
Исправленный вариант: 20.06.2016

DOI: 10.7868/S0370274X16150042