Быстрая и ультрабыстрая энергодисперсионная рентгеновская рефлектометрия на основе призменной оптики

Впервые получены интерференционные спектры рентгеновского отражения от тонких пленок путем разложения спектра полихроматического пучка с помощью алмазной призмы. Измерения пленочных наноструктур и калибровочных спектров поглощения проводились на синхротроне ESRF. Предложенная спектрометрическая схема позволяет получать интерференционную картину в широком диапазоне изменений модуля вектора рассеяния $q$ без углового сканирования. Это обеспечивает возможность изучения ультрабыстрых процессов в слоистых наноструктурах при интенсивном внешнем воздействии импульсами лазерного излучения или заряженных частиц с временны́м разрешением порядка длительности рентгеновского импульса.