Диагностика энерговклада при острой фокусировке фемтосекундного лазерного излучения в объем прозрачного диэлектрика в реальном времени по сигналу третьей гармоники

Установлено, что третья гармоника, генерируемая при острой фокусировке фемтосекундного лазерного импульса ближнего ИК-диапазона (1.24 мкм), служит индикатором энерговклада в объем прозрачного диэлектрика и может быть использована в качестве системы обратной связи в процессе микроструктурирования вещества. Сигнал третьей гармоники чувствителен к изменению как размера лазерно-индуцированной микроплазмы, так и концентрации свободных электронов, что позволяет детектировать микроплазму с субмикронными продольными размерами. Показано, что метод регистрации третьей гармоники является универсальным и может применяться как в одноимпульсном, так и двухцветном режимах микроструктурирования.