А. А. Ширяев, Д. А. Золотов, Е. М. Супрун, И. Г. Дьячкова, С. А. Ивахненко, В. Е. Асадчиков, “Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии”, Письма в ЖЭТФ, 2020, том 111, выпуск 9,страницы 597

Эта публикация цитируется в 4 статьях

КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии

А. А. Ширяев^ab, Д. А. Золотов^c, Е. М. Супрун^d, И. Г. Дьячкова^c, С. А. Ивахненко^d, В. Е. Асадчиков^c

^a Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии (ИГЕМ) РАН, 119017 Москва, Россия
^b Институт физической химии и электрохимии им. А. Н. Фрумкина РАН, 119071 Москва, Россия
^c Федеральный научно-исследовательский центр “Кристаллография и фотоника” РАН, 119333 Москва, Россия
^d Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля НАН Украины, 04074 Киев, Украина

Аннотация: Представлено дальнейшее развитие подхода к исследованию дефектов в совершенных кристаллах с алмазной решеткой на основе рентгеновской топографии в квазизапрещенном отражении 222. Для синтетических алмазов различных типов проведено сравнение пространственного распределения интенсивности рентгеновских отражений 111 и 222 с распределением точечных дефектов. Установлена перспективность использования рентгеновской топографии с использованием квазизапрещенного отражения 222 для исследования слабых напряжений в совершенных кристаллах.

Поступила в редакцию: 09.04.2020
Исправленный вариант: 10.04.2020
Принята в печать: 10.04.2020

DOI: 10.31857/S1234567820090049