RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2020, том 111, выпуск 10, страницы 641–645 (Mi jetpl6169)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

ОПТИКА, ЛАЗЕРНАЯ ФИЗИКА

Отклик на субмиллиметровое излучение СИНИС приемника с электронным охлаждением

А. А. Гунбинаab, С. А. Лемзяковcd, М. А. Тарасовe, В. С. Эдельманc, Р. А. Юсуповe

a Институт прикладной физики РАН, 603950 Н. Новгород, Россия
b Нижегородский государственный технический университет им. Р. Е. Алексеева, 603950 Н. Новгород, Россия
c Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, 119334 Москва, Россия
d Московский физико-технический институт (государственный университет), 141701 Долгопрудный, Россия
e Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, 125009 Москва, Россия

Аннотация: Экспериментально изучен отклик на субмиллиметровое излучение приемника, сформированного на кремниевой подложке в виде метаматериала – матрицы $10\times10$ разрезных колец, соединенных туннельными структурами сверхпроводник–изолятор–нормальный металл–изолятор–сверхпроводник (СИНИС). При малых по сравнению со сверхпроводящей щелью напряжениях электронная температура $T_e$ при температуре подложки $T \sim 0.1$ K равна $\sim 0.23$ K из-за перегрева паразитным излучением, при $0.3$ K $T_e \approx T$. В обоих случаях при росте напряжения $T_e$ снижается из-за электронного охлаждения и достигает $0.19$ K при напряжении, соответствующем максимальному отклику. При $T = 0.1$ K отклик в $5$$6$ раз превышает отклик при $T \sim 0.3$ K. Таким образом, электронное охлаждение не обеспечивает такой же чувствительности приема, как и охлаждение приемника в целом.

Поступила в редакцию: 29.03.2020
Исправленный вариант: 16.04.2020
Принята в печать: 16.04.2020

DOI: 10.31857/S1234567820100018


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2020, 111:10, 539–542

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024