Аннотация:
Результаты измерения транспортных и магнитных параметров кристаллов халькогенидов железа Fe$_{1+y}$Se$_{x}$Te$_{1-x}$ проанализированы с учетом данных о химическом составе и наличии примесных фаз, полученных с помощью рентгеновской дифрактометрии. Установлено, что ионы избыточного (сверхстехиометрического) железа, так же как и примесные фазы, вызывают напряжения в кристаллической решетке, и это приводит к повышеню температуры перехода в сверхпроводящее состояние. Количество примесных включений в результате спинодального распада растет со временем, что также способствует повышению критической температуры.
Поступила в редакцию: 22.12.2020 Исправленный вариант: 02.03.2020 Принята в печать: 02.03.2020