Эта публикация цитируется в
2 статьях
ОПТИКА, ЛАЗЕРНАЯ ФИЗИКА
Микродоменная инженерия в волноводных и слоистых структурах на основе сегнетоэлектриков для применений в элементах фотоники (Миниобзор)
Т. Р. Волкa,
Я. В. Боднарчукa,
Р. В. Гайнутдиновa,
Л. С. Коханчикb,
С. М. Шандаровc a Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова Федеральный научно-исследовательский центр
“Кристаллография и фотоника” РАН, 119333 Москва, Россия
b Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
c Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 634050 Томск, Россия
Аннотация:
Представлен обзор результатов исследований сегнетоэлектрических нано- и микродоменных структур, сформированных в оптических волноводах на LiNbO
$_3$. В волноводном сэндвиче LNOI (LiNbO
$_3$-on-insulator) полярной
$(Z)$ ориентации полем зонда AFM записаны нанодоменные структуры заданной конфигурации и исследованы их свойства. На доменных стенках обнаружена статическая проводимость
$\sigma_{\text{DW}}$. Ее оценка выполнена с помощью оригинального метода, основанного на характеристиках AFM записи доменов. Найденная величина
$\sigma_{\text{DW}}\approx8\cdot10^{-4}$ (Ом
$\,{\cdot}\,$см)
$^{-1}$ не менее, чем на 12 порядков, превышает объемную проводимость LiNbO
$_3$. В планарных оптических волноводах He : LiNbO
$_3$ и Ti : LiNbO
$_3$, сформированных на неполярных (
$X$ и
$Y$) поверхностях кристалла электронно-лучевым методом,записаны микродоменные решетки с заданными периодами. Исследования нелинейно-оптического преобразования излучения в записанных структурах показали, что оптимальные характеристики волноводного преобразования во вторую гармонику достигаются при соответствии глубины записанных доменов
$T_d$ толщине волноводного слоя. Величина
$T_d$ задается ускоряющим напряжением
$(U)$ SEM.
Поступила в редакцию: 22.04.2021
Исправленный вариант: 29.04.2021
Принята в печать: 30.04.2021
DOI:
10.31857/S1234567821120053