Аннотация:
Впервые проведены исследования зависимости пороговой плотности энергии абляции поверхности таких кристаллических материалов, как кремний и алмаз (с ориентациями (001) и (111)) от направления линейной поляризации ультракоротких импульсов различной длительности (0.3–3.3 пс) с длиной волны 515 нм. Полученные значения пороговой плотности энергии абляции $F_{\text{abl}}$ демонстрируют для всех ориентированных пластин заметную зависимость от азимута поляризации лазерных импульсов для всех трех длительностей. Азимутальная модуляция величины $F_{\text{abl}}$ составляет от 30 до 90 % и связывается с шириной зонной щели для разных кристаллографических направлений этих кристаллических материалов, проявляющейся, когда лазерная поляризация совпадает с этими направлениями. Полученные результаты позволят оптимизировать параметры поляризации ультракоротких лазерных импульсов для обработки различных кристаллических материалов.
Поступила в редакцию: 24.06.2021 Исправленный вариант: 25.06.2021 Принята в печать: 25.06.2021