RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2009, том 79, выпуск 12, страницы 79–85 (Mi jtf10009)

Поверхность, электронная и ионная эмиссия

Электростатические и ван-дер-ваальсовы силы в воздушном контакте зонда атомно-силового микроскопа с проводящей поверхностью

Г. В. Дедковa, А. А. Канаметовa, Е. Г. Дедковаb

a Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова, г. Нальчик
b Московский физико-технический институт, г. Долгопрудный, Московская обл.

Аннотация: Методом контактной силовой спектроскопии проведены измерения электростатических и ван-дер-ваальсовых сил взаимодействия серийных зондов атомно-силовых микроскопов (АСМ) с проводящими поверхностями в атмосферных условиях. Разработан алгоритм статистической обработки исходных зависимостей “фототок–перемещение”, позволяющий трансформировать их в зависимости “сила–расстояние”. Определена константа Гамакера в контакте платина (зонд)–графит (образец). Показано, что измерение электростатических сил позволяет определить геометрические параметры зонда АСМ, а также выполнить независимую калибровку жесткости кантилевера.

Поступила в редакцию: 02.02.2009


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2009, 54, 1801–1807

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026