Моделирование контактной жесткости полусферического островкового включения

С помощью численного моделирования получена модель, выражающая связь контактной жесткости, измеряемой с помощью зондов атомно-силовой микроскопии с постоянным контактным радиусом cредствами атомно-силовой акустической микроскопии, с радиусом одиночного полусферического островкового включения и индентационными модулями материалов включения и матрицы. Анализ проводился методом конечных элементов с использованием изотропной модели материалов. Возможная область применения – исследование нанокомпозитных материалов.