Аннотация:
Рассмотрено взаимодействие термически
напыленных In и Рb с компонентами полупроводника Pb$_{0.77}$Sn$_{0.23}$Te.
На основе изучения оже-профилей элементов в приконтактной области установлены
основные закономерности такого взаимодействия. Установлена связь данных
оже-спектроскопии с фотоэлектрическими свойствами фотодиодов, полученных
напылением In и Рb на Pb$_{0.77}$Sn$_{0.23}$Te. Показано, что слои окисла,
полученные на поверхности полупроводника химическим травлением, защищают
материал полупроводника от прямого взаимодействия с напыленным металлом
и существенно улучшают характеристики фотодиодов.