Аннотация:
Методом полевой ионной микроскопии изучена тонкая
структура обедненных зон, образовавшихся в вольфраме при облучении
осколками деления. Обнаружены некоторые геометрические особенности обедненных
зон, формируемых каскадами атомных столкновений с энергиями
${\sim100\div200}$ кэВ. На основании расчета испаряющих полей
вольфрамовых кристаллов с различной степенью дефектности
проведена оценка концентрации вакансий в различных областях обедненных зон.