Аннотация:
Представлены результаты молекулярно-пучковых измерений
сечений ионизации ван-дер-ваальсовских кластеров СO$_{2}$$\bar{\sigma}_{+}(\bar{N},E_{e})$ и прилипания к ним электронов
$\bar{\sigma}_{-}(\bar{N},E_{e})$. Получены зависимости указанных сечений
от среднего числа молекул в кластере $N$ и энергии электронов в диапазоне
${1\leqslant E_{e},\,\text{эВ}\leqslant200}$. Оказалось, что в исследованном
диапазоне величин ${\bar{N}\leqslant(1\div3)\cdot10^{3}}$ значения
$\bar{\sigma}_{+}(\bar{N})$ и $\bar{\sigma}_{-}(\bar{N},E_{e})$ растут с
ростом $\bar{N}$. Максимум сечения $\bar{\sigma}_{+}(E_{e})$ с ростом $\bar{N}$
смещается в сторону больших значений $E_{e}$, а зависимость
$\bar{\sigma}_{-}(E_{e})$ носит сложный характер. В частности, зависимость
$\bar{\sigma}_{-}(E_{e})$ имеет максимум при ${E_{e}\simeq2}$ эВ, что
указывает на образование CO$_{2}^{-}$ в кластерах. Методом задерживающего
потенциала получены функции распределения заряженных и нейтральных кластеров
по размерам, в которых проявились эффекты испарения и фрагментации
кластеров, сопровождающие образование кластерных ионов,
а также эффект неоднократной ионизации кластеров.