RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1986, том 56, выпуск 4, страницы 701–707 (Mi jtf134)

Квантовая электроника

Использование интерферометров на основе отражательных голограмм для исследования локальных деформаций

В. О. Индисов, В. С. Писарев, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев

Московский инженерно-физический институт

Аннотация: Для исследования деформированного состояния локальных областей поверхности элементов конструкций предлагается схема интерферометра на основе отражательных голограмм Ю.Н.  Денисюка, обеспечивающая устойчивые измерения трех компонент вектора перемещений. Получены соотношения, связывающие величины погрешностей компонент перемещений со значениями параметров оптической схемы, и указаны пути минимизации этих погрешностей. Возможности рассмотренного подхода иллюстрируются при определении деформации контура кругового выреза в цилиндрической оболочке, нагруженной крутящим моментом.

УДК: 531.715.1

Поступила в редакцию: 16.04.1985



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024