Определение основных магнитных параметров пленок при использовании линейных магнитооптических эффектов

[BПриведена методика определения локальных значений намагниченности насыщения и параметров кристаллографической и перпендикулярной анизотропии, исключающая необходимость измерения толщины исследуемых образцов. Показано, что введение $\mu$-поправки позволяет согласовать результаты применения метода Дюбуа и предложенной методики для определения намагниченности насыщения монокристаллических ферритовых пленок.