Регистрация мессбауэровских спектров по вторичному излучению

Проведено исследование мессбауэровских спектров, регистрируемых в $2\pi$-геометрии рассеяния назад по различным типам вторичного излучения: рентгеновскому, резонансно рассеянному мессбауэровскому и конверсионным и Оже-электронам. Получены аналитические выражения для параметров спектра: интенсивности, площади и ширины спектральной линии. Рассмотренные приближения толстого и тонкого рассеивателей могут быть использованы в зависимости от реализуемой экспериментальной ситуации. Приведены справочные данные, которые облегчат применение полученных результатов.