Краткие сообщения

Использование рефрактометрии для фазового анализа полупроводниковых аморфных пленок (на примере системы As$-$S)

Н. К. Киселева, Б. Т. Коломиец, Т. В. Чернева

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, Ленинград

Поступила в редакцию: 10.05.1984

Реферативные базы данных:

•