Краткие сообщения

Определение толщины и состава эпитаксиальных слоев в ходе образования структур GaAs$-$Ga$_{1-x}$Al$_{x}$As

Д. И. Биленко, О. Я. Белобровая, А. С. Игнатьев, В. Г. Мокеров, C. Е. Пылаев, И. В. Рябинин, В. Д. Ципоруха

Саратовский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского, Научно-исследовательский институт механики и физики

УДК: 637.311.S3

Поступила в редакцию: 19.03.1985
Исправленный вариант: 16.07.1985

Реферативные базы данных:

•