Краткие сообщения

Возрастание фликкерного шума, обусловленное электромиграцией дефектов в кристаллах CdTe

Н. И. Кучма, Е. С. Никонюк, Н. И. Троцюк

Украинский институт инженеров водного хозяйства, Ровно

Поступила в редакцию: 18.04.1985
Исправленный вариант: 28.08.1985

Реферативные базы данных:

•