Аннотация:
Рассмотрены физические особенности ионно-лучевого
легирования при повышенных энергиях ионных пучков. На основе решения
транспортного уравнения для функции распределения ионов по пробегам
рассчитаны количественные характеристики пространственных распределений
примеси при ионной имплантации бора и фосфора в кремний при энергии
до 10 МэВ. Рассмотрена роль упругих и неупругих процессов при имплантации примеси
и радиационном повреждении кристалла в условиях высокоэнергетического ионного
облучения. Продемонстрированы возможности метода высокоэнергетической ионной
имплантации на примерах легирования сквозь окна в масках, а также создания
скрытых и однородно легированных слоев.