Краткие сообщения

Выявление дислокационных сеток в тонких приповерхностных областях кристаллов методом скользящей рентгеновской дифракции

М. П. Щеглов, С. С. Рувимов, Р. Н. Кютт, Л. М. Сорокин.

Реферативные базы данных:

•