Анализ низкочастотных флуктуаций автоэлектронного тока в системе уран–индий

С помощью автоэлектронного микроскопа специальной конструкции и электронной системы управления и регистрации проведен анализ низкочастотных флуктуаций автоэлектронного тока, эмиттируемого острием из урана в условиях технического вакуума (${\sim10^{-7}}$ Тор и ниже). Изучены случаи чистой поверхности урана, а также поверхности, покрытой пленкой индия (степень покрытия ${\theta\simeq1\div3}$) и пленкой остаточных газов. Показана и частично реализована возможность применения разработанной методики для исследования радиационных свойств металлопленочных систем, характеризуемых условием ${\varphi_{0}<\varphi_{\text{пл}}}$ ($\varphi_{0},\varphi_{\text{пл}}$— значения работы выхода подложки и пленки).