RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1986, том 56, выпуск 9, страницы 1757–1763 (Mi jtf349)

Квантовая электроника

Характеристики фазовых дифракционных решеток, полученных методом ионного обмена

Г. В. Корнюшенко, А. Н. Осовицкий

Университет дружбы народов им. Патриса Лумумбы, Москва

Аннотация: Решена задача о диффузии примеси в изотропную среду через щели в периодической маске при постоянстве источников. Эти результаты использованы для теоретического изучения свойств дифракционных решеток полученных методом ионного обмена, которые представляют интерес для целого ряда устройств интегральной оптики. Изготовлены и экспериментально исследованы три серии образцов подобных решеток с масками из алюминия и титана. В результате сравнения расчетных и экспериментальных данных выявлены некоторые различия, для устранения которых необходимо совершенствование математической модели процесса ионного обмена.

УДК: 535.421

Поступила в редакцию: 23.07.1985



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025