Аннотация:
Разработан метод расчета коэффициентов отражения
и пропускания неидеальных многослойных структур, используемых в качестве
нейтронных монохроматоров-поляризаторов. Метод, применимый как для непоглощающих,
так и поглощающих сред, позволяет учесть разброс толщин отдельных слоев
и является точным для величины, обратной коэффициенту пропускания МС. Показано,
что увеличение степени неидеальности МС приводит к замыванию минимумов
на зависимости коэффициента отражения $R$, соответствующих зонам проводимости
нейтронов в идеальной МС, от нормальной составляющей импульса нейтрона
$\chi$. Амплитуда осцилляций в зависимости $R(\chi)$ прямо связана
с величиной разброса толщин слоев и может служить для ее определения.