Экспериментальное исследование резистивной одноквантовой логической структуры

Разработана и экспериментально исследована тестовая структура для проверки основных узлов недавно предложенной резистивной одноквантовой логики. Структура включает генератор одноквантовых импульсов, отрезок нейристорной линии для их передачи, усилители для размножения и объединения импульсов, а также универсальный логический элемент ИЛИ$-$НЕ. Функционирование схемы проверялось измерением постоянных напряжений $\bar V$ на различных элементах структуры, величины которых связаны с частотами проходящих информационных импульсов соотношением Джозефсона ${f={\bar V}/\Phi_{0}}$. Структура была выполнена с использованием сверхпроводниковых переходов на основе пленок ниобия с минимальной площадью ${10\times10}$ мкм и плотностью критического тока ${j_{c}=2\div5\cdot10^{2}\,\text{А/см}^{2}}$, шунтированных внешними резисторами с сопротивлениями ${\sim1}$ Ом, что обеспечивало малые значения нормированной емкости переходов (${\beta_{c}\leqslant1}$) и относительно большие значения характерного напряжения ${I_{c}R_{N}\simeq100\div500}$ мкВ.
Испытания показали работоспособность всей тестовой схемы на тактовых частотах до 30 ГГц, а самого логического элемента — до 48 ГГц.