Метод дифракции рентгеновских лучей в условиях скользящего падения: дифференциальные измерения с высокой точностью

Предложена принципиально новая рентгеновская схема дифференциальных измерений дифракции в условиях скользящего падения. Данная схема не требует мощных источников излучения типа синхротронного ускорителя. Продемонстрирована высокая чувствительность дифракционных кривых к изменению разориентации дифракционных плоскостей, а также к наличию аморфных пленок на поверхности кристалла. Развита динамическая теория дифракции на кристаллах с аморфной пленкой с произвольной зависимостью восприимчивости $\chi_{0}$ от глубины. Система дифференциальных уравнений (Максвелла) сведена к алгебраической системе рекуррентных соотношений. Определена область, в которой рассеяние рентгеновских лучей удовлетворяет кинематическому приближению.