Применение методов мессбауэровской спектроскопии для комплексных исследований свойств поверхности и объема кристалла

В последнее десятилетие мессбауэровское излучение Co$^{57}$ стало широко применяться для исследований свойств поверхностного слоя толщиной до 3000 Å (метод конверсионной электронной мессбауэровской спектроскопии). Развивается также метод мессбауэровской спектроскопии с регистрацией рентгеновского характеристического излучения, позволяющий исследовать слои толщиной до 15 мкм. Традиционным методом ядерной гамма-резонансной или мессбауэровской спектроскопии, как известно, исследуются объемные свойства кристалла.
В работе показано, что, используя вышеперечисленные методы мессбауэровской спектроскопии, можно проводить комплексные исследования свойств поверхности и объема кристалла. Обнаружено, что информация, получаемая методом мессбауэровской спектроскопии с регистрацией рентгеновского характеристического излучения, является звеном, связывающим и дополняющим сведения, полученные методом конверсионной электронной мессбауэровской спектроскопии и методом ядерной гамма-резонансной спектроскопии.
В качестве примера таких комплексных исследований приводятся результаты измерений на монокристаллах Fe$_{3}$BO$_{6}$.
Для того чтобы одновременно получать мессбауэровские спектры, регистрируя электроны конверсии и рентгеновское характеристическое излучение в области температур от 100 до 700 K, предложен двухкамерный проточный пропорциональный детектор.