Аннотация:
Проведен расчет эволюции электрического поля в высокоомном
полупроводнике в условиях локального фотовозбуждения однородно поглощаемым
светом (засветка кристалла узкой одиночной полоской). Полученное двумерное
распределение поля пересчитано в распределение интенсивности света в
интерференционной картине, возникающей при просвечивании кристалла
в перпендикулярном полю направлении нефотоактивным поляризованным светом.
Результаты расчета сопоставлены с интерференционной картиной, экспериментально
полученной на кристалле Bi$_{12}$SiO$_{20}$. Рассчитана и сопоставлена
с измерениями релаксация фототока при локальном возбуждении.