RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1990, том 60, выпуск 11, страницы 124–131 (Mi jtf4063)

Поверхность, электронная и ионная эмиссия

Критерий плоскостного каналирования в слоистых структурах

М. И. Файнголъд


Аннотация: Развит простой способ описания рассеивающих свойств слоистой структуры с помощью одного безразмерного параметра $\tilde\zeta$, являющегося «сквозной» характеристикой брэгговской дифракции и плоскостного каналирования. Величина $\tilde\zeta$ зависит от периода структуры, а также от ширины барьера (или ямы) и максимального перепада потенциального рельефа в пределах периода. По отношению к $\tilde\zeta$ режимы брэгговской дифракции и каналирования антагонистичны: первый выражен при ${\tilde\zeta\ll 1}$, второй — при ${\tilde\zeta\gg1}$. Таким образом, величина $\tilde\zeta$ определяет, какой из режимов возникнет при прохождении данных частиц через рассматриваемую структуру. Рассмотрен промежуточный режим, отвечающий значениям ${\tilde\zeta\simeq1}$.



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025