Дифракция волноводных мод на планарных голографических решетках

Излагаются результаты исследования дифракции волноводных мод на планарных голографических решетках (ГР), формируемых посредством фоторефрактивной записи в оптических волноводах на ниобате лития. Приводятся расчетные зависимости интегралов перекрытия от периода ГР в волноводах на $Y$- и $Z$-срезах кристалла при взаимодействии TE-мод с одинаковым номером в случае преобладания фотогальванического механизма записи. Представлены результаты эксперимента по определению эффективных фотогальванических констант для планарных и объемных ГР с различным периодом.