Краткие сообщения

О возможности локального анализа диэлектриков с помощью атомно-ионной масс-спектрометрии

М. Ю. Яблоков, Л. Н. Григоров, Д. В. Шалашилин

Институт синтетических полимерных металлов АН СССР, Москва

УДК: 537.226

Поступила в редакцию: 06.07.1985
Исправленный вариант: 28.09.1985

Реферативные базы данных:

•