Аннотация:
С помощью высокоскоростной лазерной шлирен-регистрации
и статистического анализа исследовался электрический пробой н-гексана
в квазиоднородном поле при напряженностях
${\sim0.9{-}2.1}$ МВ/см. Показано существование трех механизмов пробоя.
Один соответствует электрическому разряду с катода, а два — с анода.
Определены границы механизмов пробоя и их зависимость от длины разрядного
промежутка. Установлена прямая корреляция результатов оптических
и статистических исследований. Анализ полученных результатов показывает, что
существование некоторого критического времени и расстояния между электродами
связано с переходом от механизма пробоя с катода («пузырькового»)
к электрическому разряду с анода, содержащему в себе элементы
и «пузырькового», и ионизационного механизмов пробоя.