Развитие пучковой неустойчивости при инжекции электронного сгустка в слабоионизованную плазму в условиях пробоя

Исследовано влияние лавинообразной наработки плазмы на динамику пучковой неустойчивости, возбуждаемой передним фронтом электронного сгустка. Показано, что при транспортировке сгустков с длительностью, превышающей обратное характерное время развития лавины ионизации, через слабоионизованную плазму амплитуда поля, возбуждаемого в хвостовой части сгустка, значительно уменьшается по сравнению со случаем, когда наработка плазмы отсутствует.