Аннотация:
Описан эксперимент по измерению оптических
констант и толщин окиснованадиевых
пленок, нанесенных на алюминиевый подслой,
которые применяются в устройствах оптической
обработки информации. Показано, что оптические
константы пленки и подслоя зависят от
условий вакуумного осаждения. Измерены петли
гистерезиса оптических констант $n$ и $k$ на
длинах волн 632.8 и 1152.3 нм. Показано, что
дифракционная эффективность окиснованадиевой
пленки $\eta$ рассчитанная с использованием полученных
значений $n,\,k$ и толщины пленки, хорошо
совпадает с результатами независимых измерений $\eta$.