RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1992, том 62, выпуск 4, страницы 108–112 (Mi jtf4629)

Оптика, квантовая электроника

Влияние контактных давлений на контраст интерференционных полос в методе спекл-фотографии

Л. В. Осинцев, Ю. И. Островский, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев


Аннотация: Изменение микрорельефа поверхности между экспозициями приводит к уменьшению контраста интерференционных полос в методе спекл-фотографии. Это обстоятельство используется для расширения возможностей метода спекл-фотографии. Приведены результаты экспериментальных исследований влияния контактных давлений на контраст интерференционных полос в методе спекл-фотографии при контакте тел с разной шероховатостью поверхностей из различных материалов. Полученные результаты использованы для измерения контактных давлений в фрагменте болтового соединения.



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024