Двумерный анализ аноднообработанных слоев

Разработан метод двумерного анализа, основанный на определении пространственной корреляции исследуемых пористых аноднообработанных (ПАО) слоев Al$_{2}$O$_{3}$. Приводятся корреляционные функции прямой и «обратной» поверхностей ПАО пленки Al$_{2}$O$_{3}$. Рассматриваются процессы, проходящие при анодировании двухслойной структуры Al$-$Nb.