Эта публикация цитируется в	
			4 статьях
				
			
				
			XXV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Н. Новгород, 9--12 марта 2021 г.
			
				Твердое тело
			
				
				Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик
			
			А. А. Дедковаa, 	
П. Ю. Глаголевa, 	
Е. Э. Гусевa, 	
Н. А. Дюжевa, 	
В. Ю. Киреевa, 	
С. А. Лычевb, 	
Д. А. Товарновa		a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
					b Институт проблем механики им. А. Ю. Ишлинского Российской академии наук, г. Москва
					
			Аннотация:
			Рассмотрены особенности тонкопленочных мембран, сформированных над круглыми отверстиями в кремниевых подложках с помощью Бош-процесса травления. Из-за напряженного состояния исходных пленок мембраны имеют сложную форму. Для расчета механических характеристик мембраны посредством анализа зависимости прогиба мембраны 
$w$ от поданного на нее избыточного давления 
$P$ необходимо определение непосредственно на мембране: ее диаметра, толщин составляющих ее слоев, изменения рельефа поверхности мембраны по всей ее площади по мере увеличения давления 
$P$. На примере 
$p$-Si
$^{*}$/SiN
$_{x}$/SiO
$_{2}$- и SiN
$_{x}$/SiО
$_{2}$/SiN
$_{x}$/SiО
$_{2}$-мембран показано определение диаметра мембраны и толщин составляющих слоев. Использованы методы спектральной эллипсометрии, рентгеновского энергодисперсионного микроанализа, оптической профилометрии и оптической микроскопии. Показано влияние особенностей условий закрепления мембран на их напряженно-деформированное состояние, проведена оценка посредством численного моделирования. Разработана методика измерений и расчета механических характеристик мембран, имеющих начальный прогиб. Результат расчета показан на примере мембраны с начальным прогибом 2 
$\mu$m – SiN
$_{x}$/SiО
$_{2}$/SiN
$_{x}$/SiО
$_{2}$ и мембраны с начальным прогибом 30 
$\mu$m – Al/SiO
$_{2}$/Al.
				
			
Ключевые слова:
			тонкие пленки, мембрана, дефект, механические характеристики, механические напряжения, деформация, модуль Юнга, модуль упругости, прогиб, микроэлектромеханические системы, МЭМС, круглая мембрана, кремниевая подложка, оптическая профилометрия, избыточное давление.	
Поступила в редакцию: 26.04.2021
Исправленный вариант: 26.04.2021
Принята в печать: 26.04.2021	
			
DOI:
			10.21883/JTF.2021.10.51357.121-21