А. А. Ахсахалян, С. А. Гарахин, Ф. А. Дарьин, М. В. Зорина, В. В. Кривенцов, Д. Д. Першин, А. Е. Пестов, Р. С. Плешков, В. Н. Полковников, Я. В. Ракшун, Н. Н. Салащенко, С. С. Светохин, М. В. Свечников, Д. С. Сороколетов, В. А. Чернов, Н. И. Чхало, “Изготовление и исследование зеркал с широкой полосой пропускания для синхротронных применений”, ЖТФ, 2021, том 91, выпуск 10,страницы 1524

XXV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Н. Новгород, 9--12 марта 2021 г.
Физика низкоразмерных структур

Изготовление и исследование зеркал с широкой полосой пропускания для синхротронных применений

А. А. Ахсахалян^a, С. А. Гарахин^a, Ф. А. Дарьин^b, М. В. Зорина^a, В. В. Кривенцов^b, Д. Д. Першин^c, А. Е. Пестов^a, Р. С. Плешков^a, В. Н. Полковников^a, Я. В. Ракшун^b, Н. Н. Салащенко^a, С. С. Светохин^b, М. В. Свечников^a, Д. С. Сороколетов^b, В. А. Чернов^b, Н. И. Чхало^a

^a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
^b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск
^c Новосибирский государственный университет

Аннотация: Разработаны, изготовлены и проанализированы широкополосные W/Si-многослойные зеркала для широкополосного монохроматора, рассчитанного для спектрального диапазона 7–10 keV. Показана возможность использования стекового подхода для получения многослойных зеркал с коэффициентом отражения около 30% со спектральной полосой пропускания $\Delta E/E$ около 20%. Приведены результаты измерений угловых и спектральных кривых отражения зеркала, полученных на лабораторном дифрактометре и на экспериментальной станции “Рентгенофлуоресцентного элементного анализа” накопителя ВЭПП-3 ИЯФ СО РАН.

Ключевые слова: жесткий рентгеновский диапазон, монохроматор, синхротронное излучение, широкополосные зеркала, стековые структуры, многослойные рентгеновские зеркала.

Поступила в редакцию: 28.04.2021
Исправленный вариант: 28.04.2021
Принята в печать: 28.04.2021

DOI: 10.21883/JTF.2021.10.51366.128-21