RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2021, том 91, выпуск 10, страницы 1588–1596 (Mi jtf4931)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XXV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Н. Новгород, 9--12 марта 2021 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Применение нанопорошков окиси церия для полировки кремния

Н. И. Чхалоa, А. А. Ахсахалянa, Ю. А. Вайнерa, М. В. Зоринаa, А. Е. Пестовa, М. В. Свечниковa, М. Н. Тороповa, N. Kumara, Ю. М. Токуновb

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный

Аннотация: Описаны методы исследований и первые результаты, полученные при изучении шероховатости подложек из монокристаллического кремния (111), обработанных на финальной стадии различными способами: традиционная полировка без использования химико-механической полировки (ХМП), с использованием ХМП и без ХМП, но с применением нанопорошков окиси церия. Продемонстрирована эффективность использования нанопорошков CeO$_{2}$. Были получены следующие значения эффективной шероховатости: без ХМП – 3.56 nm, с ХМП – 0.54 nm и без ХМП, но с полировкой CeO$_{2}$ – 0.93 nm.

Ключевые слова: поверхность, шероховатость, рентгеновская оптика, глубокая шлифовка-полировка.

Поступила в редакцию: 02.04.2021
Исправленный вариант: 02.04.2021
Принята в печать: 02.04.2021

DOI: 10.21883/JTF.2021.10.51375.95-21



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024