RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1922–1930 (Mi jtf5163)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физическая электроника

Ионно-пучковые методики прецизионной обработки оптических поверхностей

И. Г. Забродин, М. В. Зорина, И. А. Каськов, И. В. Малышев, М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, А. К. Чернышев, Н. И. Чхало

Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Описаны методики прецизионной обработки поверхности оптических элементов пучками ускоренных ионов. Приведены характеристики и возможности оборудования, а также решаемые с помощью него задачи. Подробно описаны возможности финишной коррекции локальных ошибок формы малоразмерным ионным пучком, осесимметричной коррекции/асферизации широкоапертурным сильноточным ионным пучком и ионной полировки. Представлены значения эффективной шероховатости поверхности плавленого кварца, ситалла, Zerodur'а, ULE$\circledR$ в диапазоне пространственных частот $q\in$ [2.5 $\cdot$ 10$^{-2}$–6.0 $\cdot$ 10$^{1}$ $\mu$m$^{-1}$], а также примеры формирования сферической поверхности и профиля асферизации.

Ключевые слова: ионно-пучковая методика, пучок ускорения, кварц, ситалл.

Поступила в редакцию: 03.04.2020
Исправленный вариант: 03.04.2020
Принята в печать: 03.04.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49985.112-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:11, 1837–1845

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024