RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1931–1937 (Mi jtf5164)

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физическая электроника

Анализ эмиссии электронов с одиночного кремниевого катода в квазивакуумную (воздушную) среду методом атомно-силовой микроскопии

И. Д. Евсиков, С. В. Митько, П. Ю. Глаголев, Н. А. Дюжев, Г. Д. Демин

Национальный исследовательский университет "МИЭТ"

Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии экспериментально рассмотрены особенности полевой эмиссии электронов с одиночного кремниевого катода острийного типа в квазивакуумную (воздушную) среду. В бесконтактном режиме работы атомно-силового микроскопа измерены вольт-амперные характеристики одиночного катода с нанометровым радиусом закругления вершины при расстояниях 10 и 20 nm между вершиной катода и вершиной измерительного зонда. Проведено моделирование распределения электрических полей как на поверхности вершины одиночного катода, так и на поверхности вершин отдельно взятых катодов в составе массива, на основе которого сделана теоретическая оценка фактора усиления электрического поля в зависимости от расстояния “катод-зонд”. Показано, что фактор усиления поля, рассчитанный из экспериментальных ВАХ в координатах Фаулера–Нордгейма, на несколько порядков превышает величину, полученную из теоретических расчетов, что указывает на необходимость учета дополнительных квантово-размерных эффектов, играющих важную роль в формировании тока эмиссии электронов в наноразмерном зазоре.

Ключевые слова: полевая эмиссия, атомно-силовая микроскопия, кремниевые полевые нанокатоды, коэффициент усиления поля.

Поступила в редакцию: 16.04.2020
Исправленный вариант: 16.04.2020
Принята в печать: 16.04.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49986.136-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:11, 1846–1852

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024