RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 4, страницы 671–677 (Mi jtf5344)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Твердотельная электроника

Экспериментальная и теоретическая оценка рентгеноконтрастности тонкомерных образцов никелида титана с микронными покрытиями на основе Ti и Ta

Е. Ю. Гудимоваab, Л. Л. Мейснерab, С. Н. Мейснерa, О. И. Шабалинаab, А. А. Бощенкоc, А. Е. Баевc, С. И. Винтизенкоc

a Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия
b Национальный исследовательский Томский государственный университет
c Томский национальный исследовательский медицинский центр Российской академии наук, Научно-исследовательский институт кардиологии

Аннотация: Проанализирована перспектива использования покрытий микронной толщины, содержащих тантал, для эффективного повышения рентгеноконтрастности миниатюрных металлических изделий, используемых в эндохирургии. Исследованы свойства рентгеноконтрастности покрытий из Ta и Ti–Ta толщиной 1–2 $\mu$m, сформированных на поверхностях образцов проволоки из TiNi–сплава диаметром 152 $\mu$m. Приведены сравнительные данные расчетных (по значениям массового коэффициента ослабления рентгеновских лучей) и экспериментальных, полученных рентгенологическим методом на ангиографической установке, характеристик рентгеноконтрастности материалов покрытий. Показано, что наличие Ti$_{60-70}$Ta$_{40-30}$-покрытий толщиной 1 – 2 $\mu$m на поверхности проволоки из TiNi-сплава приводит к увеличению рентгеноконтрастности материала в 2 раза. Проанализировано изменение контрастности образцов TiNi в зависимости от концентрации тантала в покрытии при применении основных ангиографических режимов съемки.

Ключевые слова: сплавы с эффектом памяти формы, никелид титана, покрытия на основе Ti и Ta, рентгеноконтрастность, сердечно-сосудистая хирургия.

Поступила в редакцию: 01.05.2019
Исправленный вариант: 01.05.2019
Принята в печать: 21.10.2019

DOI: 10.21883/JTF.2020.04.49094.184-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:4, 645–651

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024