RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2019, том 89, выпуск 11, страницы 1663–1668 (Mi jtf5455)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

XXIII Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 11-14 марта 2019 г.

Использование планарных пермаллоевых микрочастиц для детектирования механических напряжений

Н. И. Нургазизовa, Д. А. Бизяевa, А. А. Бухараевa, И. В. Русскихa, Ю. В. Садчиковab

a Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского, КазНЦ РАН
b Казанский национальный исследовательский технический университет им. А. Н. Туполева

Аннотация: Приведены результаты исследования изменения магнитной структуры планарных пермаллоевых микрочастиц под действием механического напряжения. Частицы были сформированы на стеклянных подложках и имели квадратную форму в плоскости образца. Было показано, что по изображениям таких частиц, полученным с помощью магнитно-силового микроскопа, можно детектировать одноосные механические напряжения. В зависимости от геометрических размеров частиц были определены диапазоны напряжений, для детектирования которых они могут эффективно использоваться.

Ключевые слова: планарные магнитные микрочастицы, магнитно-силовая микроскопия, магнитоупругий эффект.

Поступила в редакцию: 28.03.2019
Исправленный вариант: 28.03.2019
Принята в печать: 15.04.2019

DOI: 10.21883/JTF.2019.11.48325.113-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2019, 64:11, 1573–1578

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024