RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2019, том 89, выпуск 8, страницы 1164–1169 (Mi jtf5531)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Атомная и молекулярная физика

Процессы захвата и диссоциативного захвата одного электрона при взаимодействии двухзарядных ионов с молекулами CO

А. А. Басалаевa, В. В. Кузьмичевab, М. Н. Пановa, О. В. Смирновac

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Измерены абсолютные величины сечений процессов одноэлектронного захвата и одноэлектронного захвата с диссоциацией при взаимодействии ионов He$^{2+}$, C$^{2+}$, N$^{2+}$ и O$^{2+}$ с молекулой СО в диапазоне энергий налетающих ионов от 6.4 до 36.4 keV. Обнаружено, что для иона-снаряда О$^{2+}$ сечение процесса диссоциативного захвата существенно больше, чем сечение процесса одноэлектронного захвата. Дано качественное объяснение этого эффекта.

Ключевые слова: двухзарядные ионы, захват одного электрона, диссоциация однозарядных молекулярных ионов атмосферных газов.

Поступила в редакцию: 08.02.2018
Исправленный вариант: 28.11.2018
Принята в печать: 04.03.2019

DOI: 10.21883/JTF.2019.08.47886.53-18


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2019, 64:8, 1096–1101

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024