Аннотация:
Измерены абсолютные величины сечений процессов одноэлектронного захвата и одноэлектронного захвата с диссоциацией при взаимодействии ионов He$^{2+}$, C$^{2+}$, N$^{2+}$ и O$^{2+}$ с молекулой СО в диапазоне энергий налетающих ионов от 6.4 до 36.4 keV. Обнаружено, что для иона-снаряда О$^{2+}$ сечение процесса диссоциативного захвата существенно больше, чем сечение процесса одноэлектронного захвата. Дано качественное объяснение этого эффекта.