Магнитометрическая диагностика дефектов высокотемпературных сверхпроводящих лент в градиентном магнитном поле

Представлена новая методика бесконтактного магнитометрического определения локального критического тока в высокотемпературных сверхпроводящих лентах. В отличие от обычных подходов, где токи в сверхпроводнике наводятся однородным магнитным полем внешнего источника, в нашем варианте намагничивание ленты проведено линейкой разнополярных постоянных магнитов. Показано, что для ряда технических задач диагностики дефектов предложенный нами подход эффективнее применявшихся ранее. Рассмотрены два варианта диагностики. Первый предназначен для экспрессной диагностики локальных дефектов (в первую очередь поперечных трещин) в отдельной ленте и в стопке лент, второй разработан для случая гладкого изменения критического тока отдельной ленты. Предлагаемый метод позволяет существенно повысить точность определения плотности локального критического тока.