Возможности магнитного псевдорезонанса в изучении тонких ферромагнитных пленок с одноосной магнитной анизотропией

Выяснены возможности магнитного псевдорезонанса (нерезонансного пика магнитной восприимчивости) в сравнении с ферромагнитным резонансом (ФМР) при измерении параметров тонких ферромагнитных пленок с плоскостной одноосной магнитной анизотропией. Измерения проведены на двух характерных для данного эффекта образцах ферромагнитных пленок. Использовались $Q$-метр на частоте около 300 MHz (для псевдорезонанса) и стандартный магнитно-резонансный спектрометр $X$-диапазона (для ФМР). Показано, что техника $Q$-метра на частоте 300 MHz обеспечивает адекватную регистрацию магнитного псевдорезонанса как в эпитаксиальных, так и в поликристаллических пленках. Установлено, что по точности определения величины поля магнитной анизотропии и направления легкой оси намагничивания метод псевдорезонанса не уступает ФМР, а в некоторых случаях информативно дополняет его.