Применение трехкристальной топографии для выявления и исследования дефектов структуры в кристаллах

Показано, что для получения топограмм без использования асимметричного монохроматора с нулевой дисперсией по отношению к образцу и с разрешением, близким к разрешению обычных двухкристальных топограмм, можно использовать трехкристальную схему, где первые два кристалла осуществляют дополнительную монохроматизацию излучения. Проведена апробация предложенной методики на монокристаллах Bi$_{12}$GeO$_{20}$.