RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2018, том 88, выпуск 8, страницы 1211–1215 (Mi jtf5843)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Твердотельная электроника

Влияние структуры омических контактов на характеристики GaAs/AlGaAs фотоэлектрических преобразователей

А. В. Малевская, В. С. Калиновский, Н. Д. Ильинская, Д. А. Малевский, Е. В. Контрош, М. З. Шварц, В. М. Андреев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Разработана многослойная система омических контактов для GaAs/AlGaAs фотоэлектрических преобразователей излучения. Предложена и исследована технология “чернения” омических контактов с целью уменьшения коэффициента отражения оптического сигнала от поверхности многослойного контакта на основе структуры Ag/Au/Ag. Достигнуто снижение коэффициента отражения излучения от контактов более чем в 10 раз за счет чернения омических контактов.

Поступила в редакцию: 08.12.2017

DOI: 10.21883/JTF.2018.08.46311.2591


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2018, 63:8, 1177–1181

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024