RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2018, том 88, выпуск 4, страницы 578–586 (Mi jtf5944)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физика низкоразмерных структур

Температура поверхности конденсации как инструмент для исследования механизмов формирования пленок

Л. Р. Шагинян, С. А. Фирстов, И. Ф. Копылов

Институт проблем материаловедения им. И. Н. Францевича НАН Украины, г. Киев

Аннотация: Повышение температуры поверхности конденсации в процессе роста пленки есть результат диссипации различных видов энергии на этой поверхности. Одним из видов энергии является теплота химических реакций, которая выделяется в процессе осаждения пленки, получаемой реакционным магнетронным распылением. Мониторинг температуры поверхности, $T_{\operatorname{surf}}$, при осаждении пленок TiN при реакционном (Ti–in–N$_{2}$) и безреакционном (TiN–in–Ar и TiN–in–N$_{2}$) методах распыления показал, что максимальная величина этой температуры наблюдалась при реакционном методе, а в ряду безреакционных модификаций (TiN–in–Ar)–(TiN–in–N$_{2}$) она убывала. В то же время состав и кристаллическая структура пленок TiN не зависели от метода получения и соответствовали таковым у объемного нитрида титана. На основании этих результатов предложен механизм формирования пленок, получаемых указанными методами. Предполагается, что в процессе реакционного распыления пленка формируется на поверхности конденсации путем реакции между атомами азота и титана, тогда как в безреакционных методах распыления формирование пленки осуществляется из молекул TiN.

Поступила в редакцию: 11.07.2017

DOI: 10.21883/JTF.2018.04.45727.2428


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2018, 63:4, 563–570

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024