RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2017, том 87, выпуск 3, страницы 335–340 (Mi jtf6278)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Атомная и молекулярная физика

Исследование молекулярного пучка Se масс-спектрометрическим методом с электронной ионизацией

А. Н. Завилопуло, О. Б. Шпеник, А. М. Мылымко

Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина

Аннотация: Описаны методика и результаты масс-спектрометрических исследований образования положительных ионов в результате диссоциативной ионизации молекулярного пучка селена электронным ударом. Из кривых эффективности ионизации определены энергии появления фрагментных ионов. Исследована также динамика образования молекулярных ионов селена в интервале температур 420–500 K. Впервые изучены энергетические зависимости эффективности образования однозарядных ионов Sе$_{n}^{+}$ для $n$ = 1–4 и двузарядного иона селена в интервале от порога до 36 eV и проанализированы обнаруженные особенности эффективных сечений ионизации.

Поступила в редакцию: 26.02.2016
Исправленный вариант: 06.05.2016

DOI: 10.21883/JTF.2017.03.44235.1780


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2017, 62:3, 359–364

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024